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  • 降落值测定仪
  • 降落值测定仪根据GB/T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产了FN-II型降落值仪。它是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器。...
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